RU EN

Приставки отражения

Различают спектры внешнего и внутреннего отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения и спектры диффузного отражения.

Спектры внутреннего отражения получают, когда исследуемый образец находится в контакте с призмой из оптически менее плотного материала. Для этого используют метод нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) с одним отражением внутри призмы или более точный метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения (МНПВО) с большим числом отражений.

Приставки зеркального отражения

Зеркальное отражение — это идеальный метод исследования однородных образцов, имеющих отражающие поверхности, а также тонких пленок материалов, нанесенных на такие поверхности. Он обеспечивает неразрушающий контроль поверхностей и покрытий без пробоподготовки. Спектр зеркального отражения может быть использован для идентификации образца, контроля качества покрытий, анализа монослоев и измерения толщины пленок.


Приставка диффузного отражения ПДО

Диффузное отражение — это высокочувствительный метод для анализа порошкообразных и твердых образцов, не требующий трудоемкой пробоподготовки.


Приставка МНПВО36 горизонтального типа

Метод МНПВО (многократного нарушенного полного внутреннего отражения) позволяет проводить экспресс-исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок, не требует трудоемкой пробоподготовки.