RU EN

Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45

Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45 предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.

Зеркальное отражение, полученное для сравнительно тонких пленок на отражающей подложке и измеренное для угла падения, близкого к нормальному, обычно является высокоточным и дает спектры, очень похожие на спектры пропускания.

Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.

 

Особенности и преимущества:

  • измерение отраженного излучения для угла падения, близкого к нормальному,
  • фиксированные углы падения — соответственно 30° и 45°,
  • простота установки в прибор,
  • отсутствие пробоподготовки,
  • удобное расположение образца.